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溫度85℃+濕度85%!你的產(chǎn)品能通過恒溫恒濕試驗(yàn)箱極限挑戰(zhàn)嗎?

文章出處:http://czlobn.com/ 責(zé)任編輯:林頻儀器 發(fā)表時間:2025-08-13 16:02【
一臺嗡嗡作響的恒溫恒濕試驗(yàn)箱,把你的產(chǎn)品放進(jìn)它的“高溫?zé)釒в炅?rdquo;。溫度攀升到85℃,濕度逼近飽和的85%——金屬開始發(fā)熱,電路板在潮濕中被考驗(yàn),塑料和油墨的附著力接受極限拷問。多數(shù)產(chǎn)品在這里會出現(xiàn)應(yīng)力、膨脹、老化、漏水或功能失靈。你敢把自己的產(chǎn)品交給這樣的環(huán)境檢驗(yàn)嗎?如果答案是“敢”,那你的產(chǎn)品就有資格向市場和客戶證明:真正的可靠與耐用不是售前承諾,而是經(jīng)過苛刻環(huán)境考驗(yàn)后的成績單。
 
為什么選擇85℃/85%持續(xù)試驗(yàn)?
極端但現(xiàn)實(shí):85℃/85%并非天馬行空的數(shù)據(jù)。許多工業(yè)、汽車、消費(fèi)電子以及戶外設(shè)備在高溫高濕環(huán)境下長期工作,尤其是在熱帶、沿海及廠房密閉環(huán)境中。該條件模擬加速老化與故障機(jī)理,能在短時間內(nèi)暴露長期使用中會出現(xiàn)的問題。
高加速比:該環(huán)境能加速材料、封裝和電路的化學(xué)/物理劣化過程,縮短壽命預(yù)測所需時間,幫助研發(fā)團(tuán)隊(duì)快速定位薄弱環(huán)節(jié)。
全面考驗(yàn):溫度、濕度、電遷移、金屬腐蝕、絕緣擊穿、膠黏劑脫落、外觀變色等問題都可能同時出現(xiàn)。一次試驗(yàn),復(fù)合考核多項(xiàng)可靠性指標(biāo)。

 
我們的恒溫恒濕試驗(yàn)箱為什么能成為你最值得信賴的“極限挑戰(zhàn)場”?
精準(zhǔn)控溫控濕:恒溫恒濕箱采用進(jìn)口級傳感器與PID控制算法,溫度穩(wěn)定性±0.5℃,濕度穩(wěn)定性±2%RH,保證測試環(huán)境真實(shí)可靠、可復(fù)現(xiàn)。
堅(jiān)固可靠的試驗(yàn)空間:箱體材料和密封系統(tǒng)專為長時間高溫高濕運(yùn)行設(shè)計(jì),保證連續(xù)測試數(shù)百小時仍無明顯漂移或外泄。
多樣工況模擬:支持循環(huán)升降溫、恒定應(yīng)力、溫濕交變、定時通風(fēng)/停風(fēng)等多種工況,自定義程序滿足不同產(chǎn)品和規(guī)范(如IEC、MIL、GB等)。
數(shù)據(jù)完整可追溯:配套自動化記錄系統(tǒng)實(shí)時采集溫濕曲線、上傳報警日志,并支持導(dǎo)出CSV/PDF報告,便于研發(fā)、質(zhì)量和認(rèn)證部門使用。
安全防護(hù)到位:超溫、超濕、漏電、通訊斷開等多重保護(hù),保證測試人員與被測樣品雙重安全。
 
我們的試驗(yàn)?zāi)軒湍惆l(fā)現(xiàn)并改進(jìn)什么?
電性能退化:識別電阻、導(dǎo)通、MCU/ASIC在高溫高濕下的漂移或失效模式,提前定位元器件或PCB布局問題。
封裝與連接可靠性:檢測焊點(diǎn)虛焊、膠黏劑脫落、密封圈老化導(dǎo)致的進(jìn)水和短路風(fēng)險,指導(dǎo)材料與工藝改進(jìn)。
外觀與功能耐久:評估塑料發(fā)黃、涂層起泡、顯示屏霧化或觸控失靈等用戶可察覺的問題,提升產(chǎn)品質(zhì)感與體驗(yàn)。
壽命與加速老化評估:通過加速試驗(yàn)推斷長期壽命,為保修策略與可靠性目標(biāo)提供數(shù)據(jù)支撐。
 
可以說市場不會等待“可能可靠”的承諾,客戶也不會原諒“用不到一年就壞”的承諾。當(dāng)85℃高溫與85%濕度聚焦在你的產(chǎn)品上,它會直白地告訴你:哪里強(qiáng)、哪里弱。把產(chǎn)品交給我們,讓嚴(yán)苛環(huán)境成為你最公平的裁判。通過恒溫恒濕極限挑戰(zhàn),不僅是為了達(dá)標(biāo),更是為了把“可用”變成“值得信賴”的競爭力。